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紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)

更新時(shí)間:2024-03-20

訪問(wèn)量:1437

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

城市:北京市

簡(jiǎn)要描述:
ILT 5000 SED005WBS320W 紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)可對(duì)紫外光固化、光輻射危害及閃光燈測(cè)量等的研究分析。
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)的研究

光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)制單位的動(dòng)態(tài)范圍

Pico-ammeter10fA1mA(從100fA1mA校準(zhǔn))

無(wú)線通信內(nèi)置

用戶控制或自動(dòng):范圍、規(guī)/、采樣率

4-20 mA輸出

15D SubSMA輸入端口

“Set it & Forget It”遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)記錄

電源:USB或內(nèi)置充電電池組

多系統(tǒng)同時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)

包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼

NIST可追溯/ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)

采樣率高達(dá)100 Hz,可編程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)描述:

 

紫外敏感危害探測(cè)器設(shè)計(jì)為在250400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度,用于紫外敏感危害研究

測(cè)量

測(cè)量范圍:2.33e-82.33e+0 W/cm2

光譜范圍:250–400 nm

配置ILT5000*SED005/WBS320/W(探

*包括軟件

 

應(yīng)用:該檢測(cè)器經(jīng)過(guò)特殊配置,可準(zhǔn)確測(cè)量穿過(guò)UV波段的寬部分,用于總UV靈敏度危險(xiǎn)監(jiān)測(cè)。

光片和輸入光學(xué)元件是可拆卸的,可以與探測(cè)器組件分開(kāi)購(gòu)買,以允許濾光片和輸入光學(xué)元件互換。

注:配置中不含圖片中的平板電腦。

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